内建自测试（英语：built-in self-test, BIST）是可测试性设计的一种实现技术。
改进的大规模集成电路测试方法 -文本浏览模式- 文档 - 枢研网 关键词：可测性设计；内建自测试；每时钟测试；测试向量压缩 [gap=770]Key words：DFT；Built-in Self Test；test-per-clock；test pattern compression
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内建自测试(Buit-In-Self-Test，BIST)技术被认为是解决由于电路集成度越来越大所造成的测试费用巨大和测试访问困难等问题的最有希望的技术。
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存储器内建自测试 Memory BIST ; memory built-in self-test
内建自测试法 Build in Self Test
逻辑内建自测试 LBIST ; Logic BIST ; logic built in self test
软件内建自测试 BIST for Software ; Build-In-Self-Test for Software
互连内建自测试 IBIST
可引入伪内建自测试 PBIST
中逻辑内建自测试 logic built in self test
其中逻辑内建自测试 logic built in self test ; LBIST
内建自测试技术 Bailt-inSelf-test ; BIST
This Thesis use the embedded Boundary-Scan Built-in-Self-Test model to solve the testing problem of the embedded-tracking system.
本文针对嵌入式目标跟踪系统的测试问题,利用基于边界扫描的内建自测试技术实现了一种较好的解决方案。 实验结果显示,测试系统能够完成预定的测试功能,对片上系统的测试具有一定的参考价值。
参考来源 - 基于边界扫描的内建自测试技术及其应用·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销。
Built-in self-test (BIST) is used as an effective test technique and it can greatly reduce test overheads.
本文提出了一种基于算术加法生成器的测试或内建自测试的低功耗测试方法。
A low power test approach for test or built-in self-test based on arithmetic additive generator is proposed in this paper.
本文提出了采用模拟多路开关的模拟内建自测试电路abist的一种新结构。
This paper presents a new structure of analog Built - in Self - Test circuit (ABIST) consisting of analog multiplexers.
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