3.2.3 存储器内建自测试(Memory BIST) 26-29
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存储器内建自测试（Memory Built-In Self-Test，MBIST）是较通用的一种有效的测试嵌入式存 储器的方法。
用存储器内建自测试 Memory Built-In Self-Test
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文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理，并给出了存储器内建自测试的一种典型实现。
The principle of memory built-in self-test is analyzed in detail and a typical implementation of MBIST is given in the paper.
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