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中逻辑内建自测试

网络释义

  logic built in self test

...据库 用于提高芯片可测试性的可测性设计(dcsign for testability,DFT)方法被提出,其中逻辑内建自测试(logic built in self test, LBIST)方法已经被证明为大规模集成电路(VLSI)和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。

基于4个网页-相关网页

短语

其中逻辑内建自测试 logic built in self test ; LBIST

有道翻译

中逻辑内建自测试

The logic is built in and self-tested

以上为机器翻译结果，长、整句建议使用 人工翻译 。

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- 来自原声例句
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