扫描链（英语：Scan chain）是可测试性设计的一种实现技术。它通过植入移位寄存器，使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值。
扫描链 Boundary-Scan Chain
扫描链测试技术 Scan Chain Test
成一个边界扫描链 Boundary-Scan Chain
动态扫描链路 dynamic BS chain
多扫描链 multiple scan chain
链接扫描 LinkScanner ; AntiPhishing ; Link Scaner
逻辑可编程扫描链方法 method of logic programmable bs chain
网站失效链接扫描软件 DeepTrawl
链接扫描器 LinkScaner
Because test vectors shift into CUTs and shift out all by scan chain.
扫描测试期间功耗主要来自测试向量移入、移出扫描链时引起的功耗及在扫描测试期间的组合电路部分消耗的功耗。
参考来源 - 集成电路低功耗测试方法研究For the test application time can be reduced effectively, this paper proposes an approach based on scan chain disabling technique, in view of incompatible test vector compression method.
为进一步降低测试功耗及测试应用时间，提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。
参考来源 - 一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。
An optimal sequencing of the storage elements in the single scan chain design for - testability is presented in the paper.
对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。
For a fixed set of test vectors, the overall test time can be minimized using the scan chain constructed with this method.
对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。
For a fixed set of test vectors, the overall test time can be minimized using the scan chain constructed by this method.
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