傅利叶变换红外分光计FTIR(Fourier transform infraredspectrometer) 原子显微镜(Atomic force microscope) 主要进行聚合物的流变特性，具体是针对填充物质，如环氧树脂(epoxy)、密封剂(sealant)、密封胶材料等(encapsulant)。 .
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再利用原子显微镜(atom ic force m icroscopy,AFM)得到压痕的真实三维形貌图。 结合M atlab对压痕进行分析,得到压痕的真实残余面积Aresidua...
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...射光测仪 (Scatterometer)以及积分球(TIS)三种，现分别明如下： (一) 原子显微镜(Atomic Force Microscope, AFM) 原子显微镜为依其操作模式可分为种，接触式与非接触式 [4]，其中非接触式较对薄膜表面与探针造成伤害...
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原子力显微镜 Atomic Force Microscopy ; AFM ; Atomic Force Microscope ; non-contact AFM
再利用原子显微镜 atomic force microscopy ; AFM
利用原子显微镜 AFM ; atom ic force m icroscopy
原子力显微镜探针 AFM Tip ; RTESP ; DNISP ; OTESPA
接触式原子力显微镜 Contact AFM ; Contact Mode AFM
原子间力显微镜 AFM ; atomic force microscope
敲式原子力显微镜 TAFM
原子力显微镜技术 atomic force microscope ; AFM
便携式原子力显微镜 Portable AFM
其次，讨论了原子透镜在原子显微镜、原子探针、原子刻印、光栅制作等领域中的应用前景。
Then some potential applications of atomic lens in the atomic microscopy, atomic microprobe, atom lithography as well as fabrication of grating are discussed.
然而，研究人员并非采用加热整个样本的方案，而是使用了原子力显微镜(afm)一个加热探针去转换出一条仅有12纳米宽的导电带。
However, instead of heating the entire sample, the researchers used a hot atomic force microscope (AFM) tip to convert very narrow ribbons, measuring just 12 nm across, into reduced graphene.
原子力显微镜拍摄的17个忆阻器构成电路的图像。
An image of a circuit with 17 memristors captured by an atomic force microscope.
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