...根据Oliver-Pharr方法求出压头与测试材料之间接触表面的投影面积Ac和硬度值Hop再利用原子显微镜（atomic force microscopy，AFM）得到压痕的真实三维形貌图。
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再利用原子显微镜(atom ic force m icroscopy,AFM)得到压痕的真实三维形貌图。结合M atlab对压痕进行分析,得到压痕的真实残余面积Aresidual...
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再利用原子显微镜 atomic force microscopy ; AFM
利用原子力显微镜 atomic force microscope ; AFM
并利用原子力显微镜 atom force microscope
人员利用原子力显微镜 Atomic Force Microscopy
首次利用原子力显微镜 Atom force microscope ; AFM
我们不能像使用显微镜时，利用激光闪光，使得原子发光。
Well, laser flash that makes the atom glow while we - that this light that we use to image with, in the microscope.
新南威尔士大学的量子计算机技术中心(CQCT)和威斯康辛大学麦迪逊校区利用特殊的显微镜操纵原子联合研制了这块晶体管。
The University of New South Wales' Centre for Quantum Computer Technology (CQCT) and the University of Wisconsin-Madison created the transistor by manipulating atoms using a special microscope.
利用原子力显微镜、二次离子质谱分析仪和探针，对多晶硅薄膜的高温退火特性进行了实验研究。
An experiment was conducted to study the high-temperature annealing characteristics of polysilicon films using atomic force microscope, secondary ion mass spectroscopy and probe.
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