2）晶圆针测制程（Wafer Probe）经过Wafer Fab之制程后，晶圆上即形成一格格的小格 ，我们称之为晶方或是晶粒（Die），在一般情形下，同一片晶圆上皆制作相同的晶...
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...造过程可划分为前道（Front-end）和后道（Back-end），前道包括晶圆处理工序（Wafer Fabrication）和晶圆针测工序（Wafer Probe），后道包括封装工序（Packaging）和测试工序（Initial Test and Final Test）。
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Wafer Probe Station 探针台 ; 晶圆探针台
on-wafer probe 在片测试探头
Wafer Probe Card 晶圆探针卡
Flex dot wafer probe 发明名称
Wafer Unit Probe 晶圆筛选检测
Wafer Parametric Probe 晶圆参数检测
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MMIC on-wafer probe is the key part of MMIC on-wafer measurement system.
MMIC在片测试探头是MMIC在片测试系统的关键部件。
Measures have been discussed for preventing the Al film for being pierced through by the probe in wafer probing on the 1034 Wafer prober.
本文打算在1034探针台上针对如何避免探针扎穿铝层问题作一讨论。
Anisotropic conductive connector, conductive paste composition, probe member, wafer inspection device and wafer inspection method.
各向异性导电连接器，导电浆料成分，探针元件，和晶片检测仪器及晶片检测方法。
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