... secondary ion mass spectrum 二次离子质谱 ; 又称二次离子质谱 ; 次离子质谱 ion mass spectrum 离子质谱 Selected ion mass spectrum 选定离子质谱 ...
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二次离子质谱仪 SIMS ; [物] secondary ion mass spectrometer ; secondary ion mass spectrograph ; Secondary Ion Mass Spectra
二次离子质谱 SIMS ; Secondary ion mass spectroscopy ; secondary ion mass spectrum ; secondary-ion mass spectrometry
等离子质谱 LA-ICP-MS ; X-series
动态二次离子质谱法 dynamic SIMS ; DSIMS
静态二次离子质谱法 static SIMS
静态次级离子质谱 SSIMS
二次离子质谱法 secondary ion mass spectrometry ; SIMS ; Second Ion Mass Spectroscopy
离子质谱仪 ion mass spectrometer
多离子质谱仪 multi-ion mass spectrometer
用二次离子质谱测量了注入硼离子的深度分布。
Secondary ion mass spectrometry was used to measure the distribution of implanted depths of boron ions.
通过对正负离子质谱的分析，可以确定岩样的化学组成。
With analysis of the spectra, the compositions of the samples can be determined.
飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种非常灵敏的表面检测技术。
Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) is a very sensitive surface analytical technique, well established for many industrial and research applications.
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