原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时它将与其相互作用，作用力将使得微悬臂发生形变或运动状态发生变化。扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。
原子力显微镜 Atomic Force Microscopy ; AFM ; Atomic Force Microscope ; non-contact AFM
接触式原子力显微镜 Contact AFM ; Contact Mode AFM
原子力显微镜探针 AFM Tip ; RTESP ; DNISP ; OTESPA
敲式原子力显微镜 TAFM
原子力显微镜技术 atomic force microscope ; AFM
便携式原子力显微镜 Portable AFM
导电原子力显微镜 CAFM ; conducting atomic force microscopy ; C-AFM
电化学原子力显微镜 ECAFM ; electrochemical atomic force microscope
利用原子力显微镜 atomic force microscope ; AFM
原子力显微镜分析 AFM
原子力显微镜拍摄的17个忆阻器构成电路的图像。
An image of a circuit with 17 memristors captured by an atomic force microscope.
原子力显微镜扫描对醛基化玻片表面形貌进行分析。
Scanning aldehyde group glass slide by atomic force microscopy study the surface shape.
这种原子力显微镜能够扫描象100纳米一样小的颗粒的形状。
The atomic force microscope can detail the shapes of particles as small as about 100 nanometers.
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