导电原子力显微镜（CAFM） 在原子力显微镜被用来提供超薄二维纳米材料的表面信息时，导电原子力显微镜（CAFM）也已经应用在高空间分辨率的条件下对材料导电性的研究中。导电的尖头作为顶电极，然后测量从石墨烯底电极到顶电极间的隧穿电流。
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二噻吩并[3，2-b：2’，3＇-d]噻吩-2-羧酸的微区结构及光电子传输特性 Micro-Region Structure and Photoelectron Transport Performance of Dithieno [-3,2-b ： 2＇, 3＇-d] Thiophene-2-Dicarboxylic Acid 王德坤 蒋晓红 赵春梅 王志华 王华 杜祖亮--维普资讯网 oscopy．AFM）、紫外可见（Ultra Violet—Visible，UV-Vis）吸收光谱、荧光光谱和导电原子力显微镜（Conductive Atomic Force Microscopy，CAFM）对其成膜性能及光电子传输性能进行研究．研究结果表明：该化合物成膜性能较好，在成膜过程中分子间具有很强
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结合紫外可见(ultra violet-visible,UV-Vis)吸收光谱、荧光光谱和导电原子力显微镜(conductive atomic force microscopy,C-AFM)对化合物A和化合物B薄膜的光学性质以及微区电子传输行为进行了研究.
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和导电原子力显微镜 conductive atomic force microscopy
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