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组合数字集成电路测试生成技术研究 关键词：组合数字集成电路；可测性；失效；测试生成；算法 [gap=767]Key words: Combined digital IC；Testability；Fault；Test generation；Algorithm
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automatic test generation 自动测试生成 ; 测试码自动生成
path sensitizing test generation [计] 路径敏化测试产生法
random test generation 随机测试产生
fault test generation 故障测试产生 ; 故障测试生成
critical path test generation 临界通路测试产生法 ; 要径测试产生
fan-out oriented test generation algorithm 扇出导向测试产生算法
test generation system 测试生成系统
functional level test generation 功能级测试生成的
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测试生成 - 引用次数：60 参考来源 - 基于属性的网络协议建模与互操作性测试方法研究测试产生 - 引用次数：5
A constraint extraction method and a constraint path delay test generation algorithm are developed.
3.研究并实现了约束提取及约束下的非强健通路时延测试产生算法。
参考来源 - 基于指令的处理器时延测试产生方法 -
测试生成 - 引用次数：65 参考来源 - 数字电路的多种子内建自测试及测试复用研究测试产生 - 引用次数：20
This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
参考来源 - 基于功能模块的大规模RTL组合电路分层测试产生算法研究
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双语例句原声例句权威例句
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After the test generation process is complete, the test suite will open in the test Editor view.
当测试生成过程完成之后，测试集将在Test Editor视图中打开。
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As a simple example of this, I have tried to generate tests for the bowling game program using two of the better known test generation tools. The interface to the bowling game looks like this.
作为一个简单的示例，我试着使用两款知名的测试生成工具来为保龄球游戏程序生成测试代码。
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The parallel test generation technology is an important method to resolve the difficult problem of test on massive circuits.
并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段。
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