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automatic test generation system 自动测试产生系统
automatic test pattern generation 自动测试模式产生 ; 自动产生测试图案 ; 自动测试模式生成 ; 自动测试装置
automatic test paper generation 自动组卷 ; 智能组卷
automatic test case generation 测试用例自动生成
automatic test pattern generation system 自动测试型样产生系统 ; 自动测试图形产生系统
automatic test plan generation 自动测试计划生成程序
automatic test program generation 自动测试程序生成
automatic test set generation 测试集自动生成
automatic test data generation 测试数据自动生成
The implementation of automatic test generation and fault diagnosis is also discussed.
还讨论了测试码自动生成和故障诊断的具体实现方法。
This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
This paper presents an efficient sequential circuit automatic test generation algorithm. The algorithm is based on self - adapting algorithm and USES a seventeen - valued logic model.
本文提出了一种高效的时序电路测试生成算法，该算法是建立在自适应算法的基础上，并使用了十七值逻辑模型。
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