组合数字集成电路测试生成技术研究 关键词：组合数字集成电路；可测性；失效；测试生成；算法 [gap=767]Key words: Combined digital IC；Testability；Fault；Test generation；Algorithm
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automatic test generation 自动测试生成 ; 自动测试产生 ; 测试码自动生成
path sensitizing test generation [计] 路径敏化测试产生法
random test generation 随机测试产生
fault test generation 故障测试产生 ; 故障测试生成
Test-Generation 测试产生
critical path test generation 临界通路测试产生法 ; 要径测试产生
fan-out oriented test generation algorithm 扇出导向测试产生算法
test generation system 测试生成系统
A constraint extraction method and a constraint path delay test generation algorithm are developed.
3.研究并实现了约束提取及约束下的非强健通路时延测试产生算法。
参考来源 - 基于指令的处理器时延测试产生方法This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
参考来源 - 基于功能模块的大规模RTL组合电路分层测试产生算法研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
Those traditional test generation algorithms are not applicable any more.
那些传统的测试生成算法已不再适用。
The implementation of automatic test generation and fault diagnosis is also discussed.
还讨论了测试码自动生成和故障诊断的具体实现方法。
After the test generation process is complete, the test suite will open in the test Editor view.
当测试生成过程完成之后，测试集将在Test Editor视图中打开。
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