...固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。 传统上，测试数字集成电路可以采用功能性向量，或是由自动测试向量生成(ATPG)工具所产生的向量。此类软件工具主要为随机逻辑生成基于扫描的测试向量，对于待测组件(DUT)的存储器部分，却无法提供测试方案。
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parallel ATPG 并行测试生成
ATPG system atpg系统
ATPG testing ATPG测试
atpg algorithm 测试生成算法
atpg algorithms atpg算法
atpg automatic test pattern generator 自动测试码生成程序
auto test pattern generation atpg 测试图形自动生成
Fault simulation is an important part of ATPG.
故障模拟是数字电路测试的重要组成部分。
Based on existing parallel techniques, this paper proposes a dynamic hierarchical framework for parallel ATPG and gives an implementation scheme.
本文在总结已有并行技术的基础上，提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架，并给出了一种实现方案。
This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
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