...固定逻辑(stuck-at)故障，其实并不是一件容易的事。 传统上，测试数字集成电路可以采用功能性向量，或是由自动测试向量生成(ATPG)工具所产生的向量。此类软件工具主要为随机逻辑生成基于扫描的测试向量，对于待测组件(DUT)的存储器部分，却无法提供测试方案。
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parallel ATPG 并行测试生成
ATPG system atpg系统
FastScan ATPG A p SW 测试向量自动生成工具
atpg lies 并行atpg
ATPG testing ATPG测试
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atpg automatic test pattern generator 自动测试码生成程序
auto test pattern generation atpg 测试图形自动生成
Fault simulation is an important part of ATPG.
故障模拟是数字电路测试的重要组成部分。
Finally, we analyse the performance of loosely coupled mode parallel ATPG algorithms.
最后，我们对松耦合模式的并行atpg算法进行了性能分析。
At present, the portability of ATPG algorithm is the key of blocking its commercialization.
目前，制约并行atpg算法实用化的关键原因是算法的可移植性。
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