IDT的四端口器件有工作在200MHz的高性能的存储器内置自测试(MBIST)，MBIST运行比其它的快三倍，仅需要众多周期的一半。器件也有改进的热性能和更低的系统功耗。
基于38个网页-相关网页
（3）每次构建包括自测试（self-testing），而且测试完全自动化。 （舢使所有人能非常容易得到最新的构建版本，并且能够快速反馈当前项目 的构建情况。
基于26个网页-相关网页
本文首先推导得到4位和8位ASPRG的反馈网络函数,在此基础上应用ASPRG进行内建自测试(Build In Self Test)设计并优化电路结构,ASPRG既作为测试信号发生器,而它的另一种工作模式则作为特征分析使用.
基于14个网页-相关网页
内建自测试 Built-In Self Test ; bu ilt-in se lf-test ; Buit-In-Self-Test
内置自测试 BIST ; built-in self test ; BIST BuiltInSelfTest
存储器内建自测试 Memory BIST ; memory built-in self-test
通电自测试 test, power-on self ; power-on self test
内建自测试法 Build in Self Test
逻辑内建自测试 LBIST ; Logic BIST ; logic built in self test
芯片内装自测试 BIST
自测试电路 self-testing circuit
自测试功能 self-test function
Built-in Self-Test (BIST) has become an important approach for testing VLSI that reduces test complexity and cost.
内建自测试(BIST)技术已成为解决VLSI测试难题和降低测试成本的重要手段。
参考来源 - 基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
应用推荐