漫谈SoC 市场前景 品开发,并成功应用在汽车产业当中。他说,不论是SoC 与 SiP,除了良好裸晶与可制造性设计外,其他要注意的还包括可测试设计（Design for test, DFT）、以及电子晶圆测试（Wafer sort）和最后测试等议题。YU Lee 以ST为例：“我们将一些新
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一种基于CUT多扫描链相 容压缩的技术【lll是属于可测试设计（DesignforTest，DFT）的范畴，它运用多扫描 链测试模式的相容压缩达到减少测试数据量的目的。
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DFX和DFM技术原理及与产品设计相结合的应用案例研究 ... DFM：Design for Manufacture 可生产设计 DFT：Design for Test 可测试设计 DFD：Design for Diagnosibility 可诊断分析设计 ...
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可测试性设计 Design for Testing ; DFT ; design for test
关于可测试性设计 design-for-test ; DFT
可测试性设计及其前瞻 and Where It Goes
测试/可分析设计 Design for Test/Design for Diagnosibility
Design for test(DFF) is an important testing technique addressing these challenges.
因此，无论是测试手段还是可测试设计，深亚微米技术都对它们提出了更为严峻的挑战。
参考来源 - 高清晰度电视ATSC·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
数字高清晰度电视信道接收芯片实现中使用了基于扫描链的可测试设计和静态验证技术。
In the project of HDTV channel receiving ASIC, DFT techniques based on scan-chains, STA (Static Timing Analysis) and formal verification has been adopted.
本发明的数字逻辑芯片及其可测试设计的方法，能够通过少量管脚实现电路在扫描测试时的可观测。
The digital logic chip of the invention and the method of design for testing can realize the observation of circuit scanning test by adopting few pins.
本案例分析的目的之一是符合设计标准，允许高度可测试的实现。
One of the goals of this case study was to come up to a design that allows for a highly testable implementation.
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