...3月22日，中科院EDA中心举办Why Design for Test (DFT) and Where It Goes（可测试性设计及其前瞻）技术研讨会，美国Mentor Graphics公司可测试性设计前瞻性研究组资深工程师赖李洋博士作技术报告，来自计算所、中科微公司及微电子...
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可测试性设计及其前瞻
Testability design and its foresight
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