• It is a crucial step for destructive physical analysis (DPA) and failure analysis (fa) to remove the plastic package for the die exposing.

    去除塑料封层,露出芯片表面,DPA(破坏性物理分析)FA(失效分析)关键一步

    youdao

  • It is a crucial step for destructive physical analysis (DPA) and failure analysis (fa) to remove the plastic package for the die exposing.

    去除塑料封层,露出芯片表面,DPA(破坏性物理分析)FA(失效分析)关键一步

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