载流子寿命是指在热平衡条件下，电子不断地由价带激发到导带，产生电子空穴对，与此同时,它们又不停地因复合而消失。平衡时，电子与空穴的产生率等于复合率，从而使半导体中载流子的密度维持恒定。载流子间的复合使载流子逐渐消失,这种载流子平均存在的时间，就称之为载流子寿命。
... 载流子寿命(Carrier Life Time) 角度研磨(Angle Lapping) 欧姆接触（OHMIC CONTACT） ...
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本文提出了一种测量少数载流子寿命的方法。
In this paper showed a measurement method of minority carrier lifetime.
本文提出了一种新的测量半导体材料中少数载流子寿命的方法。
A new method for measuring the life time of minority current carriers in semiconductors is described.
对微波光电导法测量半导体少数载流子寿命的测试系统进行灵敏度分析。
The sensitivity for the semiconductor minority carrier lifetime measurement system was determined using microwave photoconductance decay.
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