可测性技术有多种方法，其中比较常用的有扫描路径测试（SPT，Scan Path Test），内建 自测试（BIST，Built-In Self-Test），边界扫描测试（BST，Bounda...
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扫描路径测试
Scan path test
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该扫描路径上的延迟减少对外部缓冲器的需求，进而在集成电路扫描测试时避免保持时间违反。
The delay in the scan path reduces the need for external buffers to avoid hold-time violations during scan testing of integrated circuits.
youdao
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