X射线荧光光谱分析（科学出版社，作者吉昂）
作者： 吉昂 陶光仪 定价： ¥ 29.00 元
出版社： 科学出版社 出版日期： 2003年05月
ISBN： 7-03-010868-X/O.1674 开本： 16 开
类别： 分析化学及仪器 页数： 295 页
简介
本书为《中国科学院研究生教学丛书》之一。本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用领域作了专门论述。

X射线荧光光谱分析（一种X射线分析）
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。 根据色散方式不同，X射线荧光分析仪相应分为X射线荧光光谱仪（波长色散）和X射线荧光能谱仪（能量色散）。