HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验)
是测定IC等产品可靠性的一种方法。
随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。
一般来说，
150℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过1000小时。
175℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过400小时。
250℃情况下，IC产品保持正常性能的时间需超过72小时。