DMTBF为产品的MTBF论证测试,试验耗时较久,且需投入大量的金钱,而产品的可靠度资讯双不能及时得到并加以改善,因此主要采取加速寿命测试的方法。在物理与时间上,加速产品的劣化,以较短的时间来推定产品在正常使用状态的寿命或失效率。但基本条件是不能破坏原有设计特性。
一般情况下,加速寿命测试试验考虑的三个要素是环境应力,试验样本数和试验时间。一般电子和资讯业的零件可靠度模式及加速模式几乎都可以从相关文献查得,也可自行试验分析,得到数学经验公式。
如果温度是产品唯一的加速因素,则可采用阿氏模型(Arrhenius Model),此模式最为常用。
引进温度以外的应力,如湿度、电压、机械应力等,则为爱玲模型(Eyring Model)。产品包括电灯、液晶显示元件等适用此模式。
通常情况下,主动电子元件完全适用阿氏模型,而电子和资讯类成品也可适用阿氏模型,原因是成品类的失效模式是由大部分主动式电子零件构成。