存储量与密钥规模
ECC遵从IEEE标准。
组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵,分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成,密钥对用(ssk, SPK)标记。
标识密钥(Identity-key)由标识产生,用(isk,IPK)标记。
组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成,用(csk,CPK)标记。
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N1
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2(40KB)
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2(160KB)
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N2
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2(40KB)
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2(160KB)
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规模
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2=1..0x10
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2=1.6x10?
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等级
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Ca值
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处理原则
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A
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|Ca|≤12.5%
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作业员遵守作业标准操作并达到要求,需继续保持。
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B
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12.5%≤|Ca|≤25%
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有必要将其改进为A级。
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C
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25%≤|Ca|≤50%
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作业员可能看错规格或不按作业标准操作。须检讨规格及作业标准。
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D
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50%≤|Ca|
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应采取紧急措施全面检讨所有可能影响之因素,必要时得停止生产。
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等级
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Cp值
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处理原则
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A+
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Cp≥1.67
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无缺点。可考虑降低成本。
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A
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1.33≤Cp≤1.67
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状态良好维持现状。
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B
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1.00≤Cp≤1.33
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改进为A级。
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C
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0.67≤Cp≤1.00
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制程不良较多,须提升能力。
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D
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Cp≤0.67
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制程能力太差,应考虑重新整改设计程程。
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等级
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Cpk值
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处理原则
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A++
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Cpk≥2.0
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特优,可考虑成本的降低
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A+
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2.0 > Cpk ≥ 1.67
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优,应当保持之
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A
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1.67 > Cpk ≥ 1.33
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良,能力良好,状态稳定,但应尽力提升为A+级
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B
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1.33 > Cpk ≥ 1.0
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一般,制程因素稍有变异即有产生不良的危险,应利用各种资源及方法将其提升为 A级
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C
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1.0 > Cpk ≥ 0.67
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差,制程不良较多,必须提升其能力
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D
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0.67 > Cpk
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不可接受,其能力太差,应考虑重新整改设计制程。
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Cpk
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每一百万件之不良
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合格率
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0.33
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317310
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68.3
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0.67
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45500
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95.5
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1
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2700
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99.73
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1.33
|
63
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99.9937
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1.67
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0.57
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99.99995
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2
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0.002
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100
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