也就是说，SiP最终产品的良率是所有堆栈芯片良率的乘积，因此良好裸晶（known good die，KGD）的筛选就成了SiP生产制造过程中最重要的一环，这有赖裸晶测试技术来达成，另一方式则是采用良率更高的、...
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裸晶片 Bare chip ; Bare Die
裸晶圆 raw wafer ; SAWN wafer
裸晶测试 Bare die test
这种将多裸晶 multiple die
多颗裸晶 multiple die
裸晶记忆体 KGDM
以裸晶形式 KGDs
裸晶
Bare crystal
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