... test cases generation 测试用例生成 Test-Generation 测试产生 automated test pattern generation 自动化测试向量产生 ...
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自动测试产生器 automatic test generator
自动测试产生 Automatic Test Generation ; ATG
路径敏化测试产生法 [计] path sensitizing test generation
故障测试产生 fault test generation
随机测试产生 random test generation
临界通路测试产生法 critical path test generation
临界路径跟踪测试产生 CPTTG
扇出导向测试产生算法 fan-out oriented test generation algorithm
自动化测试产生器 automated test generator
This dissertation focuses on automatic test generation (ATPG) algorithms for very large-scale integrated circuits at register-transfer-level (RTL).
本文主要是对大规模、超大规模集成电路寄存器传输级（RTL）的自动测试产生算法进行研究。
参考来源 - 基于功能模块的大规模RTL组合电路分层测试产生算法研究A constraint extraction method and a constraint path delay test generation algorithm are developed.
3.研究并实现了约束提取及约束下的非强健通路时延测试产生算法。
参考来源 - 基于指令的处理器时延测试产生方法·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
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