... deleterious impurity有害杂质 impurity contamination杂质沾污 negative-type impurityn.N型杂质,负型杂质 ...
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杂质沾污
Impurity fouling
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铁杂质是硅片制造过程中常见的重金属沾污,表面光电压(SPV)法可很好地用于测定P型硅中铁杂质。
The impurity of iron is one major heavy-metal contamination on the silicon wafer. Surface photo-voltage method(SPV) can be used to accurately measure the iron contamination within the silicon wafer.
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