早在1991 年，Nonnenrnacher就提出了一种名为开尔文力显微镜（KelvinProbe Force Microscopy，KPFM）的sFM工作模式”1。它是一种可以测量纳米尺度表面接触电 势变化的有力工具。
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开尔文探针力显微镜 KPFM ; KFM
开尔文力显微镜
Kelvin force microscope
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开尔文力显微镜下显示试验后的表面有带正电和负电的区域，属于微米级或者更小。
The Kelvin force microscopy scans showed that the resulting surfaces were mosaics, with areas of positive and negative charges on the order of a micrometer or less across.
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