单粒子效应是指单个高能粒子穿过微电子器件的灵敏区时造成器件状态的非正常改变的一种辐射效应，包括单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁、单粒子栅击穿等。
在空间辐射对星载计 算机造成的辐射效应中，单粒子效应（SEE，Single Event Effects）是比较常见的一类， 它是指由于高能带电粒子轰击半导体集成电路所造成的故障，分为单粒子翻转、 单粒子闩...
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The second part mainly tells single event effect.
第二部分主要讲述了CMOS集成电路的单粒子效应。
参考来源 - CMOS集成电路抗辐射加固工艺技术研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
单粒子效应是卫星抗辐射加固研究的主要对象之一。
The single event effect (SEE) is an object of study of radiation hardening of satellite.
第二部分讨论空间辐射环境、单粒子效应及其预测方法。
The part II covers the space radiation environment, single event effect and it's rate prediction approaches.
应用质子直线加速器进行了静态随机存取存储器（SRAM）的单粒子效应模拟实验研究。
The Single Event Effect(SEE) simulation experiment was carried out on proton accelerators for Static Random Access Memories(SRAMs).
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