1 案例描述 1.1 ALT&HALT介绍 1.1.1 ALT ALT是“加速寿命测试”（Accelerated Life Testing）的英文缩写，是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效...
基于206个网页-相关网页
...加速寿命测试;Arrhenius模型 [gap=1005]Key words :laser and optoelectronics ;semiconductor laser ;accelerating lifetime testing ;Arrhenius model ...
基于16个网页-相关网页
HALT是高加速寿命测试（Highly Accelerated Life Test）的英文缩写，是一种发现缺陷的工序,它通过设置逐级递 增的加严的环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷...
基于8个网页-相关网页
本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式。
The paper mainly dwells on the common failure modes and the IC accelerating life span test theory and technology.
介绍了半导体激光二极管（LD）寿命测试中存在的问题，并据此给出了LD高温加速寿命测试的积分球扫描法。
The problems of laser diode life test are introduced, and the integrating cavity scanning (ICS) method is given in laser diodes (LD) high-temperature accelerating life test.
应用推荐