...共振谱法(ESR)来监测其自由基浓度的变化和过氧化氢生成速度等，从而对涂膜耐久性进行预测。 1 0.原子力显微镜 原子力显微镜(AFM)是由Binning等在1986年开发出来的一种新型显微镜。
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用XRD,AFM测定了PZT薄膜的相组分与表面结构,并利用压电响应力显微镜(piezoresponse force microscopy,PFM)观察了初始晶化和高度晶化样品自发极化形成的铁电畴.
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原子力显微镜 Atomic Force Microscopy ; AFM ; Atomic Force Microscope ; non-contact AFM
磁力显微镜 magnetic force microscope ; MFM ; Magnetic Force Microscopy ; FM-MFM
静电力显微镜 electrostatic force microscope ; EFM ; electric force microscopy
扫描力显微镜 SFM ; Scanning force microscopy ; scanning force
摩擦力显微镜 LFM ; FFM ; Friction Force Microscope ; Lateral Force Microscope
横向力显微镜 LFM ; Lateral Force Microscope
电力显微镜 EFM ; Electrostatic Force Microscope ; Electric Force Microscopy
开尔文探针力显微镜 KPFM ; KFM
原子间力显微镜 AFM ; atomic force microscope
原子力显微镜拍摄的17个忆阻器构成电路的图像。
An image of a circuit with 17 memristors captured by an atomic force microscope.
开尔文力显微镜下显示试验后的表面有带正电和负电的区域，属于微米级或者更小。
The Kelvin force microscopy scans showed that the resulting surfaces were mosaics, with areas of positive and negative charges on the order of a micrometer or less across.
基于这个原理，IBM的物理学家们于1993年研制出了世界上第一台磁共振力显微镜(MRFM)。
IBM physicists built the first microscope based on that approach, dubbed magnetic resonance force microscopy (MRFM), in 1993.
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