...:电子轰击离子源(EI源),电子轰击能量70 eV,单四极质量分析器;离子源温度230 ℃;四极杆温度150 ℃;传输线温度280 ℃;全扫描(SCAN)模式:扫描范围m/z 50～500,确定待测化合物的扫描离子、保留时间和检查有无基质干扰;溶剂延迟9 min;选择离子模式(SIM):丁烯氟虫腈...
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四、色谱-质谱的扫描模式及 其提供的信息 色谱-质谱联用分析扫描模式 全扫描（full scanning） 选择离子监测(SIM) 选择反应监测(SRM) （一）全扫描 全扫描是质量分析器在给定的时间范围内对给定质荷比范围进行无间断地扫描，...
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1.3.3 质谱条件 离子源：EI源，电子能量70eV， 离子源温度：220℃，GC-MS传输线温度：250℃； 采集方式：全扫描(All Scan)：扫描质量范围：35 一300。microscan次数：3次。
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Establishing an unite interface of chip test and debug which embodies the boundary scan and complements the full scan.
建立一个统一的芯片测试和芯片诊断调试接口，形成以边界扫描链为主体，全扫描链为补充的芯片测试机制。
参考来源 - 面向电机控制数字信号处理器设计和测试研究·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress
评估全扫描定量结果。
这样，即使采用全扫描设计，也仅需较小的芯片面积。
Thus, only a very small extra chip area is required even if full scan design is used.
针对特大规模组合电路和全扫描设计电路提出了一种高速测试生成方法。
This paper presents a high speed test generation method specifically for upper large scale combination circuit (ULSCC) and full scan designed circuit.
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