紫外光微影术较大难题是需搭配defect-free、高度平坦程度的光罩基底(Mask Blank),并搭配可检测、修补光罩的设备偕同运行进行制程。因应半导体产业所需的高精度制程与持续维持30%的成本优化,EUVL极短紫外光微影...
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光罩基底
Mask base
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