2．3测试表征方法简介 2．3．1 X射线衍射（XRO）原理 XRD（X．raydiffraction）是目前进行晶体结构分析、物相分析的重要方法，其工作效 率高，衍射线强度测量的灵敏度高。
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2．3．2广角X射线粉末衍射（XRO） 采用日本理学公司生产的D／max．IIIB型X一射线衍射仪。测试条件： CuKot（X＝I．5406A），管电640kV，管电流30mA，扫描速度8。
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...结构和荧光特性的研究 第二节薄膜结构和性能的分析方法 以下简单介绍本文中用到的几种主要分析和表征手段: 1 X射线衍射分析(XRO) 在晶体中,原子作周期性排列形成三维点阵。
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