X荧光光谱法（XRFS）：检测限一般为10～20 ppm 原子吸
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XRFS X 射线荧光光谱学 ; 射线荧光分光计
SR-XRFS 同步辐射X射线荧光光谱
XRFS without using standard samples XRFS分析中的无标样分析技术
The Nb and Th in iron ore from the beneficiation process were measured with XRFS, by using the Compton Scattered_light intensity of Rh_target as internal standard.
采用X射线荧光光谱法，以铑靶的康普顿散射线强度为内标，测定了铁矿石选矿流程样品中的铌和钍。
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