采用扫描电镜(SEM)及能谱分析(XEDS)等方法对接头各区域的微观组织进行了观察和分析,并测试了接头截面不同区域的维氏显微硬度以及接头的室温拉伸强度。
基于4个网页-相关网页
The microstructure evolution along the cross section of the dissimilar joint was analyzed with the scanning electron microscopy (SEM) and X-ray energy dispersive spectroscopy (XEDS) method.
采用扫描电镜(sem)及能谱分析(XEDS)等方法对接头横截面的微观组织进行分析。
youdao
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动