x-ray photo electron spectroscopy
x-ray photo electron spectroscopy
x射线光电子能谱学
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The structural properties of the films were analyzed by X ray photo electron spectroscopy (XPS), X ray diffractometer (XRD) and atomic force microscope (AFM).
使用X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(afm)对薄膜的结构进行了分析。
youdao
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