目前恩智浦大约有40~50％的晶圆测试（wafer test）是在高雄厂做的。林梅龄补充，台湾的隐忧是许多飞机航线已经略过高雄，进出口的方便性受到影响，好在高铁的运输解决了这项难题。
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条式测试(Strip Test)是运用圆片测试(Wafer Test)的原理来对整条框架上的器件进行成品测试(Final Test),可以同时并行测试(Parallei Test)多个器件,可以很方便地进行高温、常温、低...
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pre-wafer test 晶圆前置测试
final wafer test 晶圆后端测试
on wafer chip test 薄片内芯片检测
on-wafer test 在片检测
on wafer test 在片测试
wafer-level test 晶圆级检测
test wafer 测试晶圆 ; 测试级硅片 ; 测试片 ; 测试级抛光硅片
wafer acceptance test 测试 ; 晶圆参数测试
wafer level Test and burn-in 晶圆测试和老化
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