...陷检测设备的领导厂商，在电子束(E-beam)检测设备领域的市占率高达85%，随著半导体先进制程不断提升，对于晶圆缺陷(wafer defect)的检测有高度需求，今年在台积电、Intel等大厂持续增加对先进制程的资本支出，将延续汉微科的成长力道。
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silicon wafer swirl defect 硅片旋涡缺陷
Slip - A defect pattern of small ridges found on the surface of the wafer.
划伤- 晶圆片表面上的小皱造成的缺陷。
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