...试粉末、薄膜等样品的晶体结构、残余奥氏体、残余应力等指标，多应用于分子结构分析及金属相变研究；而全反射X荧光光谱仪（TXRF）的检测限已达到皮克级别，其非破坏性分析特点应用在痕量元素分析中，涉及环境、医药、半导体、核工业、石油化工等行业。
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This paper introduces the principle of TXRF and analyzes airborne particulate matter.
本文描述了TXRF技术的基本原理，并应用它分析了环境大气颗粒物。
The sensitivity of total reflection X ray fluorescence analysis (TXRF) is higher than normal X ray fluorescence analysis (XRF).
全反射荧光分析(TXRF)比常规荧光分析(XRF)具有更高的灵敏度。
Total reflection X ray fluorescence (TXRF) method was used to the multielement analysis of Jiangxi Wuyuan green tea and Ninghong black tea.
用全反射X -射线荧光法（TXRF）分析了江西婺绿和宁红茶的矿质元素含量。
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