WaferCheck150半导体晶圆分析仪WaferCheck150半导体晶圆分析仪是一款测量半导体晶圆/太阳能电池的时间分辨光致发光(TRPL)的完整装..
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时间相关 光致发光谱 ( TRPL )测量使用 基于时间相关单光子计数技术(TCSPC)的瞬态
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magnetophotoluminescence，magnetoabsorption，激发光谱（PLE）， 时间分辨荧光 （ TRPL ），单轴压力测量，定性缺损模型，这也说明所有Y激子的辐射重组势必延长线结构缺陷复合体。
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利用时间分辨荧光光谱(TRPL)、瞬态光谱和时间分辨微波电导(TRMC)等方法研究得到了系列k1和k2的值（表1）。
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