• 电离辐照 - 引用次数：4

  The producing process of the interface state at the total ion dose is primely analyzed using the interface state model.

  该界面态产生模型能较好的阐述现今电离辐照下界面态产生的过程。

  参考来源 - 非均匀沟道DMOS基本参数及其辐照理论的研究

·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress