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time dependent dielectric breakdown

  • 时间相关介电击穿：一种描述介质材料在长时间应用电压下失效的现象，通常用于评估半导体器件的可靠性。

网络释义专业释义

短语

time dependent dielectric breakdown test 电介质随时间变化破坏试验 ; 时间延迟测试

TDDB Time Dependent Dielectric Breakdown 介电质层崩溃的时间依存性

  • 经时击穿 - 引用次数：2

    参考来源 - 超薄栅氧化层经时击穿效应与可靠性仿真技术研究
  • 时间相关的电介质击穿

·2,447,543篇论文数据，部分数据来源于NoteExpress

双语例句

  • The time dependent dielectric breakdown of tunneling oxide used for EEPROM's is investigated.

    阐述了应用于EEPROM中的超薄隧道氧化层随时间的击穿特性。

    youdao

  • TDDB(time-dependent dielectric breakdown)is a key method to value the quality of thin gate oxide.

    经时绝缘击穿（TDDB）是评价薄栅氧化层质量的重要方法。

    youdao

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