薄膜基本参数法(Thin Film FP Method)，对于纳米数量级的薄膜厚度和成分的同时测量，对于纳米材料分析和表征，是很有意义的。
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thin film fp method
薄膜fp法
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Solve the problems existing in the sample of thin film with special shape by using the method of comparing fluorescence X-rays with scattered X-rays and practice the method in FP.
对于异常形状薄膜样品，存在着X射线荧光强度不足、分析位置不固定、定量值偏低的问题。
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