【Key words】 Design for Testability； Reconfigurable； Two-Level Balance； Test Cost； Test Overhead； Test Rectangle Block； Test Idle Time； Integer- Programming； Two-dimensional Bin-packing； Heuristic Algorithm；
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high voltages overhead test line 高电压架空试验线段
Based on an industry project, this paper presents the complete design flow of MBIST and gives the quantitative and qualitative discussion for the test overhead.
根据一个实际项目，本文介绍了MBIST的整体设计过程，并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。
Performance results and the overhead in other operating environments with actual input data may be different than these test results.
带有实际输入数据的其他操作环境中的性能结果和开销可能与这些测试结果不同。
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