...on Group,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 兼容),其工作原理是在器件内部定义一个测试访问端口(Test Access Port,TAP),通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试。
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... media access port 介质访问端口 test access port 测试存取端口 ; 存取埠 Implantable Venous Access Port 植入式静脉输液港 ...
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... Reset) 由控制器产生，用于重置介面装置 上述这些讯号均为单向传输，透过这些讯号就可构成测试存取埠（TAP, Test Access Port），而 待测装置便是透过这个存取埠连接到控制器上，控制器主要便是依照待测装置的制造商所定义 的测试程式...
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Joint test Action Group designed a common chip boundary-scan structure and test access port criterion which is called JTAG standard to support testing on-board chip or logic.
为支持板上芯片或逻辑的测试，联合测试行动小组专门设计和定义了一种通用的芯片边界扫描结构及其测试访问端口规范，称为JTAG标准。
This paper describes the fault models and test principles of the BS test access port (TAP) lines on PCBs. A test algorithm with high fault coverage and short time is then presented fort…
本文论述了板级边界扫描测试存取口的故障模型和测试原理，并针对全边界扫描印制板提出了一种故障覆盖率高、测试时间短的测试算法。
The test access port and test logic architecture and protocol of 1149.4 and 1149.1 standards are analyzed, and behavior models for ABM and DBM are put forward.
文章分析了1149.4和1149.1标准的测试访问端口，以及测试逻辑结构和测试协议的异同，提出了模拟边界 扫描单元ABM和 数字边界 扫描单元DBM的行为模型；
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