扫描白光干涉仪（SWLI）是测量表面形貌的一个有效方法，这种技术拥有许多优点，如速度快、易于使用和测量准确性高。
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扫描白光干涉仪（SWLI）是测量表面形貌的一个有效方法，这种技术拥有许多优点，如速度快、易于使用和测量准确性高。
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三种不同的技术（手写笔事件探查器（SP），扫描白光的干涉（SWLI）和原子力显微镜（AFM））来描述铝和硬钢表面的地形，的相关性进行了研究。粗糙度参数的演变（Ra和Rt）的分析，根据评估长度。
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该扫描白光干涉（SWLI）研究薄膜的使用越来越测量升幅为更广泛的理解。为1.5微米或更厚的薄膜使用干涉测量技术已经好几年了，但可用较薄薄膜测量是一个更...
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