standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay
光电导率衰减测量法测定大块锗和硅中少数载流子寿命的标准试验方法
以上为机器翻译结果,长、整句建议使用 人工翻译 。
应用推荐
模块上移
模块下移
不移动