, 聚合物表面分析:X 射线光电子能谱 (XPS) 和静态次级离子质谱 (SSIMS) [M], 北京: 化学工业出版社, 2001, p50~88. [11] 董炎明,王勉, 吴玉松 等, 纤维素科学与技术 [J], 2001, 9(2): 42~56.
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X射线光电子能谱（XPS）或化学分析用电子能谱（ESCA）；二次离子质谱（SIMS）；静态二次离子质谱（SSIMS）；俄歇电子能谱（AES）；衰减全反射傅里叶变化红外光谱仪（ATR-FT-IR）；红外反射吸收光谱
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由X-射线光电子能谱（XPS），静态二次离子质谱分析（SSIMS）和程序升温脱附（TPD）PdxCo1-x薄膜层具有不同的化学计量，通过DC磁控溅射在α-Al2O3（蓝宝石）衬底上制备的，进行了调查...
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