spectrograph electron
摄谱仪电子
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In addition, the composition of bright Sn-Bi plated layer is analyzed using scanning electron microscope and X-ray energy spectrograph. The result shows Bi content is 1% and Sn content is 99%.
此外采用扫描电镜、X射线能谱仪对锡铋光亮镀层的成分进行分析，结果表明铋含量为1%，锡含量为99%。
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